SWTest Asia 2024における出展・技術論文発表のお知らせ
2024年9月27日
株式会社東京精密は、2024年10月24日~25日の2日間、福岡で開催される半導体ウェーハ及びダイレベルの測定にフォーカスした国際カンファレンス「SWTest Asia 2024」に出展いたします。
また、株式会社テセックと共同で「パワー半導体の後工程及びモジュール製造の視点から見たウェーハテストにおける課題と解決策について」をテーマに技術論文発表を行います。
開催期間 : 2024年10月24日(木)~10月25日(金)
開催場所: ヒルトン福岡シーホーク
技術論文発表日時 : 2024年10月25日(金) 14:00~14:30
テーマ:「パワー半導体の後工程およびモジュール製造の視点から見たウェーハテストにおける課題と解決策」
SWTest Asia 2024について
SWTest(Semiconductor Wafer Test)はアメリカで30年以上の歴史を持つ、半導体ウェーハ及びダイレベルの測定にフォーカスした唯一の国際カンファレンスです。昨年の台湾開催に続き、今回「SWTest Asia 2024」が初めて日本で開催されます。