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SWTest Asia 2024における出展・技術論文発表のお知らせ

SWTest Asia 2024における出展・技術論文発表のお知らせ

2024年9月27日

株式会社東京精密は、2024年10月24日~25日の2日間、福岡で開催される半導体ウェーハ及びダイレベルの測定にフォーカスした国際カンファレンス「SWTest Asia 2024」に出展いたします。

また、株式会社テセックと共同で「パワー半導体の後工程及びモジュール製造の視点から見たウェーハテストにおける課題と解決策について」をテーマに技術論文発表を行います。

 

開催期間 : 2024年10月24日(木)~10月25日(金)

開催場所: ヒルトン福岡シーホーク

技術論文発表日時 : 2024年10月25日(金) 14:00~14:30

テーマ:「パワー半導体の後工程およびモジュール製造の視点から見たウェーハテストにおける課題と解決策」

SWTest Asia 2024について

SWTest(Semiconductor Wafer Test)はアメリカで30年以上の歴史を持つ、半導体ウェーハ及びダイレベルの測定にフォーカスした唯一の国際カンファレンスです。昨年の台湾開催に続き、今回「SWTest Asia 2024」が初めて日本で開催されます。

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