第33回日本国際工作機械見本市「JIMTOF2026」に出展

2026年10月23日

株式会社東京精密（本社：東京都八王子市　代表取締役社長CEO：木村　龍一）は、2026年10月26日（月）から31日（土）に東京ビッグサイトにて開催される第33回日本国際工作機械見本市「JIMTOF2026」に出展いたします。

ブースコンセプトに「Experience the ACCRETECH Value.」を掲げ、展示会場ではお客さまの測定ニーズに合った当社グループの製品・サービスを体感いただける価値ある場を提供いたします。

出展テーマは『モノづくりを加速させる計測ソリューション』。工作機械産業では労働人口減少や技能継承を背景に、「高効率計測」と「現場計測」を核とした計測工程の集約と省人化が進んでいます。そのため測定機には、高速性・高精度・現場耐性・システム連携力などが求められています。

展示では３つのゾーンに分け、「加工品質を支援するオンマシン計測」の他、「工程集約・省力化する非接触計測」「加工品質を造りこむラインサイド計測」として近年急速に市場が伸びている xEV、Humanoid Robot をテーマに計測ソリューションを提案します。

白色干渉顕微鏡にフォーカスバリエーション機能を＋。サブナノ粗さからミリ形状まで、様々な測定ニーズに対応

高解像度カメラと高NAレンズの組み合わせによりX-Yサンプリング間隔が向上し、より高精細な測定を実現

シャフト形状ワークピースの寸法公差や幾何公差を短時間で評価可能

大型ワークピースに対応するC323/C623/C923/C1223サイズが新登場

※JIMTOF2026 の出展はC923となります。

massテクノロジを搭載し、接触式・非接触式問わず、1台であらゆる測定に対応

測定範囲のロスなく測れる革新的なスキャニングプローブVAST XXT TL3 compact designを初搭載

「非接触で」広範囲を高速に測定可能-ラインレーザプローブLineScan One 搭載

ご好評のエントリーモデルが非接触検出器に新対応

カラー共焦点の原理を利用した表面粗さ・うねり形状測定用の非接触変位検出器「ACCHROS」を搭載

表面粗さも輪郭形状もこれ1台で測定が完結

自由自在な検出器の組み合わせであらゆるワークピースに対応

ワイドレンジと高分解能を両立！分解能がさらに向上

振動を最小限に抑え、高精度な測定を実現するリニアモータ駆動

バランス調整時間を大幅に短縮【SBSオートバランサ】

削り始めの空振り時間を極限まで削る【AEセンサー】

職人の勘頼みを数値化＆自動判定する【Exact Controlモジュール＆ソフトウェア】

開催期間	2026年10月26日（月）～10月31日（土）
会場	東京ビッグサイト
東京精密ブースNo.	展示ホール：東7ホール小間番号：E7044
公式サイト	https://jimtof.org/jp/index.html